chip defect中文是什么意思

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中文翻译
造句

小片缺陷
芯片缺陷

chip n. (摔跤时)用绊腿把对方摔倒的一种技巧。 vt. ( ...
defect vi. 叛变；逃走。 He defected to th ...
chip n. 1.碎片，削片，薄片；碎屑；薄木片；无价值的东西。 2.(陶器等的)缺损(处)。 3.(赌博用)筹码；〔pl.〕〔英俚〕钱。 4.〔pl.〕〔口语〕炸马铃薯片。 5.(作燃料的)干牛[马]粪。 6.集成电路唱片[块]。 7.〔口语〕小粒金刚石[水晶]。 a chip of [off] the old block (脾气等)完全像父亲的儿子；一家的典型人物。 (as) dry as a chip 枯燥无味的。 buy chips 投资。 cash [pass] in one's chips 把筹码兑现；〔俚语〕死。 chip in porridge [pottage, broth] 无关重要的东西，可有可无的东西。 do not care a chip for 毫不介意。 have a chip on one's shoulder 〔美俚〕盛气凌人；好打架；好争吵。 have one's chips on 孤注一掷。 in the chips 〔美俚〕有钱的。 let the chips fall where they may 不管后果如何。 when the chips are down [get on the line] 万不得已的时候，紧急时候。 vt. (-pp-) 1.切，削，凿，刻。 2.把…削成薄片；弄缺(刀口，瓷器等)。 3.〔口语〕戏弄；挖苦。 4.(鸡雏等)啄碎(蛋壳)。 vi. 1.出现缺口。 2.碎裂，瓦解，破碎 (off)。 chip at 对准…打，谩骂。 chip in 〔口语〕插嘴，加入(打架等)；捐助；拿钱赌 (They all chipped in to buy it. 大家都要买了)。 chip off 切下来，削下来。 n. (摔跤时)用绊腿把对方摔倒的一种技巧。 vt. (-pp-) (用绊腿)摔倒(对方)。
chip at 拿取笑
chip in 插嘴, 捐助, 下赌注; 近击入穴; 近穴击入; 捐献钱财; 下注
on chip 片上; 片装
on-chip 片上；芯片上
defect n. 1.缺陷，缺点，弱点；短处。 2.不足，缺乏。 have some defect in eyesight 目力不佳。 have the defects of one's qualities 美中不足之处。 in defect of 若无…时；因无。 vi. 叛变；逃走。 He defected to the West. 他叛逃到西方。
in defect of 缺少; 若无...时
no defect 无缺陷的
a chip in broth 可有可无的东西, 无关紧要的东西
a chip in porridge 无关紧要之物
a chip in pottage 可有可无的东西, 无关紧要的东西
a chip on one 肩头的木片（自卑感，因为自卑而爱找别人麻烦; 喜欢向人挑衅）
abrasive chip 抛磨块
airplanes-on-a-chip 芯片飞机
analog chip 模拟集成电路; 模拟芯片
anvil chip 测砧片
array chip 阵列式芯片
as dry as a chip 枯燥的
bare chip 裸片; 裸芯片
bargain chip 谈判的筹码
bargaining chip (讨价还价的)筹码
barrier chip 挡片
baseband chip 基带芯片

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例句与用法

For the convenience of test , varied circuit chip defects caused by the production process are abstracted as all kinds of models . at present the commonly used fault models mainly consist of stuck - at fault , stuck - open fault , bridge fault , store fault , delay fault , etc . testing methods based on voltage testing mainly aim at stuck - at fault model and have also obtained satisfactory result in research for many years . bridge fault is tested easily by quiescent power supply current ( iddq ) testing method . in regard to stuck - open fault that is difficult to testd by quiescent power supply current ( iddq ) and voltage testing , it can is tested by the dynamic current ( iddt ) testing
为了便于测试,我们将生产过程中集成电路出现的多种多样的缺陷抽象为各种模型。目前常用的故障模型主要有:固定故障,开路故障,桥接故障,存储故障,时滞故障等。电压测试主要针对固定型故障模型,多年的研究也取得了令人满意的结果; cmos电路中的桥接故障则宜用稳态电流测试方法( iddq )测试;对于电压和稳态电流难以测试的开路故障,可以使用瞬态电流测试( iddt )的方法进行测试。